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直讀光譜儀與X熒光光譜儀有區(qū)別
發(fā)布時間：2022-09-22 11:03:25 點擊：4716
直讀光譜儀與X熒光光譜儀是兩款原理不同，但是均可應用于樣品的含量分析檢測上，那廠家在選購一款合適自己產(chǎn)品前，對兩款產(chǎn)品的原理多了解一分，就能選購更適合自己的檢測儀器。
X熒光光譜儀的結構原理
當X射線打到待測樣品上，樣品中含那種元素會散發(fā)出特征X熒光，（原子中的電子都在一個個電子軌道上運行，而每個軌道的能量都是一定的，叫能級。內(nèi)層軌道能級較低，外層軌道能級較高，當內(nèi)層的電子受到X射線激發(fā)，有足夠的能量跳出內(nèi)層軌道，那么，較外層的電子躍遷到內(nèi)層的軌道進行補充，由于是從高能級上跳往低能級上，所以會釋放出能量，其能量以光的形式放出，這就是特征X射線）通過探測器放大處理特征X熒光，分析出那種元素，每種元素的特征X熒光強度正比于樣品中該元素的含量，通過內(nèi)部預先存儲的校正曲線可測定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來。
X熒光光譜儀的檢測臺
直讀光譜儀的檢測臺
直讀光譜儀的結構原理
樣品通過電弧或火花放電激發(fā)生成原子蒸氣，該蒸氣中的原子與離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜。發(fā)射光譜通過光導纖維進入到光譜儀的分光室中，色散成各光譜波段。根據(jù)每個元素發(fā)射的波長范圍，通過光電倍增管（或電感耦合檢測器）可以測量出每個元素的ZUI佳譜線。每種元素的發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素的含量，通過內(nèi)部預先存儲的校正曲線可測定其含量，并直接以百分比濃度顯示出來。
GLMY創(chuàng)想儀器，同時擁有直讀光譜儀與X熒光光譜儀兩款儀器，廣泛應用于多領域場景，滿足了更多用戶的檢測需求。上一篇：ICP光譜分析儀可以應用在哪里？ 下一篇：關于光譜儀分析的基礎，光譜知識
